x射线镀层测厚仪应用特点

x射线镀层测厚仪又叫膜厚仪、膜厚测试仪、膜厚计或者镀层测厚仪（比如GT810F、GT810NF、GT8102等），可无损地测量磁性金属基体上非磁性涂层的厚度，以及非磁性金属基体上非导电覆层的厚度。x射线镀层测厚仪具有测量误差小、稳定性好、操作简便等特点，是控制和保Z产品质量必不可少的检测仪器。

 

产品特点：

1、操作界面简单，测量方便，快捷 无损检测，在无标准样品时亦可准确分析。

2、镀层测厚仪设置了自动b2b商务免费平台防护开关，以确B用户b2b商务免费平台使用。

3、电控机盖升降 采用*双峰位快速自动校准。

4、定量分析算法，包含FP法、检量线法、经验系数法、理论系数法、神经网络算法等。

5、客户可根据自已的要求进行二次开发，自行开发任意多个分析方法。

6、自动谱线识别、多元素同时定性定量分析、让用户方便认识分析样品的组成。

7、电制冷型的X光管配合光管保养程序，散热较好，并能有效的延长X光管的寿命。

 

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