XRF-2000测厚仪测量方法

XRF-2000测厚仪，提供金属镀层厚度的测量，同时可对电镀液进行分析，不单性能优越，而且价钱*同比其他牌子相同配置的机器，本产品为您节省成本。只需数秒钟，便能非破坏性地得到准确的测量结果甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台，镭射自动对焦系统，十字线自动调整。开放式的样品台，可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业的选择。可测量各类金属层、合金层厚度等。

 

测量方法：

镀层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。这些方法中前5种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。

X射线和β射线法是无接触无损测量，测量范围较小，X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。

 

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